上海彼愛姆15J測量顯微鏡

測量顯微鏡 15J的具體信息：

一、用  途

測量顯微鏡是光學計量儀器之一種，它的結構簡單，操作方便，適用范圍極廣，主要用途如下：

1.直角座標中測定長度，例如測定孔距，基面距離，刻線距離，刻線寬度，鍵槽寬度，狹縫寬度，通孔圓直徑等等。

2.轉動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板、量規，鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行角度測量。

3.用作觀察顯微鏡，以比較檢查工作表面光潔度，鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相制版，檢驗紡織纖維等等

二、技術參數

測量工作臺讀數裝置主要規格

x－軸移動測量范圍　　　　　　　　　　　　　　 50毫米

y－軸移動測量范圍　　　　　　　　　　　　　 　13毫米

測微器分度值　　　　　　　　　　　　　　　　0.01毫米

測量臺轉動范圍　　　　　　　　　　　　　　　　　不限

測量臺刻度盤分度范圍　　　　　　　　　　0° - 360°

測量臺刻度盤之分度值　　　　　　　　　　　　　　1°

測量臺刻度盤游標讀數示值　　　　　　　　　　　　6°

測量精度：

儀器值誤差(5+L/15)微米

儀器示值誤差：包括測量誤差與儀器系統誤差。

注：測量地點溫度變化(20° ± 3°)C

　　L——被測件長度（毫米）

儀器之主要尺寸：

　　　測量臺與物鏡間之最大距離　　　　　　　　　　　80毫米

　　　測量工作臺直徑　　　　　　　　　　　　　　　 120毫米

　　　儀器外形尺寸　　　　　　　 　　高325*長262*寬220毫米

　　　儀器重量級　　　　　　　　　　　　　　　　約10.6公斤

顯微鏡的目鏡管同棱鏡成為一體繞垂軸旋轉，顯微鏡可由調焦手輪進行上下調焦