美國CMI MPS 微量分析空氣顆粒物【型號：MPS】

美國CMI MPS 微量分析空氣顆粒物【型號：MPS】

1.擁有專利技術的電子顯微采樣托盤 2、可直接將托盤放入顯微分析儀器進行分析 3、采集顆粒物粒徑切割點低至0.05um

多級顯微分析空氣顆粒物采樣器專為掃描電鏡SEM、能量色散X射線光譜分析EDXS和其他顯微分析技術采集樣品而設計的。采樣器擁有嵌入撞擊級的標準電子顯微采樣托盤（專利），采樣后可將采樣托盤直接插入顯微鏡進行分析，無需樣品前處理，減少分析費用。

此外，樣品收集在小的集中點，分析時很容易定位在高濃度地方。并且可選擇不同類型的基片材料用于各種顯微技術，如：X射線熒光分析XRF、投射電鏡TEM、傅里葉變換紅外光譜FTIR、氣相色譜/質譜GC/MS。

應用領域

1. 半導體、制藥、航空航天等高精密制造工業污染控制
2. 無塵室顆粒物污染分析
3. 電腦硬盤顆粒物采樣
4. 環境空氣、高層大氣顆粒物分析

MPS-4G1型 4級無塵室顯微顆粒物/氣溶膠采樣器
1.采集顆粒物粒徑切割點低至0.05um
2.流速：7lpm
3. 氣泵
4. 用于采集無塵室、顆粒物低濃度環境場合

MPS-3型 3級顯微顆粒物/氣溶膠采樣器
1.流速：2slpm
2. 采集顆粒物粒徑切割點低至0.05um
3. 氣泵
4. 用于電腦硬盤、環境空氣等顆粒物/氣溶膠采樣
5. 采樣器袖珍便攜

應用案例
1．臺灣電力公司使用MPS-4G1型顯微分析顆粒物/氣溶膠采樣器采集核電站放射性氣溶膠，并將采集到的樣品用掃描電鏡進行分析。

<!--[if !supportLists]--> 2． <!--[endif]-->Chuan,Raymond L. and William Chiang,Cascade impactor Colects Airborne Samples for Particle Identification. Solid State Technology,July,1985

<!--[if !supportLists]--> 3． <!--[endif]-->Chiang,William and Raymond L. Chuan, “The Cascade Impactor as a Particulate Chromatograph for Microanalysis of Aerosol Particles” Aerosols:Science,Technology,and Industruial Applications of Airborne Particles,Liu,Pui,and Fissan,eds.,Elaevier Science Publishing,New York,1984,99pp